Kjøp brukt Sentrering Mikroskopet (275)

Tilstand: god (brukt), medbringer spiss, medbringer kjegle, medbringer senter, medbringer senterstift, medbringer morsekjegle, dreiebenkspiss, senterkjegle - Produsent: Bruckner, medbringer senterkjegle 3 stk - Type: dessverre uten typebetegnelse - Feste: MK3 - Dimensjoner: se bilder - Transportdimensjoner: 180/16/H60 mm Bodpfx Anjv T T S Uorjwl - Totalvekt: 3,0 kg

Tilstand: god (brukt), medløpende senter, medløpende spiss, medløpende morsekonus, medløpende senterspiss, medløpende dreiemaskinspiss, senterspiss, senterkonus -Produsent: ABW, medløpende senterspiss -Type: ZNB 204 Feste: MK4 Mål: Ø 100 x 215 mm Vekt: 3,5 kg Bedpfxswa Izpo Anrewl

Tilstand: god (brukt), - Produsent: ABW, medløpende senterspiss - Type: ZN 205 - Feste: MK5 - Antall: 6x senterspiss tilgjengelig Bodpfjrv Avksx Anrowl - Pris: per stk - Dimensjon: Ø 92 x 272 mm - Vekt: 4,7 kg/stk.

Tilstand: brukt, roterende senterspiss, roterende kjeglespiss, roterende Morsekon, roterende sentreringsspiss, roterende dreiebenkspiss, kjeglespiss, sentreringskonus Bedpfxju I Hqws Anrowl - Produsent: Sandvik Costa, roterende sentreringsspiss med avflatet sentreringskonus - Opptak: MK5 - Modell: A-5-65085 - Dimensjon: Ø 110 x 275 mm - Vekt: 6,4 kg

Tilstand: brukt, Sentreringsanordning, sentrerenhet for bøyemaskin, rettere, plate-retter, båndretter, bånd-rettenhet, plate-retteanlegg, for eksenterpresse, hydraulisk presse Bwodpfx Ajhx E Unenrel -Produsent: Schied; sentreringsanordning -Hullsavstand: 300/90 mm Ø 13 mm -Mål: se bilder -Totale dimensjoner: 460/160/H160 mm -Vekt: 17,5 kg

Tilstand: god (brukt), medløpende senter, medløpende konisk spiss, medløpende Morse-kjegle, medløpende sentreringsspiss, medløpende dreiebenkspiss, sentreringsspiss, sentreringskjegle - Produsent: Bruckner, medløpende sentreringsspiss (sentreringskjegle) - Type: dessverre uten typebetegnelse Bwedpfsrlpn Asx Anrjl - Morsekonus: MK5 - Sentreringsspiss: Ø 60 mm - Dimensjoner: Ø 120 x 315 mm - Vekt: 9,6 kg

Tilstand: svært god (brukt), Funksjonalitet: fullt funksjonell, Til salgs: Zeiss feltutslipps-scanning elektronmikroskop, modell 40 VP med Gemini-optikk Anlegget selges komplett med datamaskin, programvare og kjølesystem. Tekniske data: - Operativsystem: Windows XP Professional - System: Oxford AZtec fra 2017 - Carl Zeiss Supra 40VP - Gemini optikk - Panasonic CCTV-kamera WV-BP332EE - EDWARDS oljefri, tørrgående scrollpumpe - EDX-detektor - STEM-detektor - Maksimal oppløsning: 1 nm - Forstørrelsesområde: 12x – 900 000x - Akselerasjonsspenning: maks 30 kV - Programvare: SmartSEM Zeiss tilbyr support for enheten frem til og med oktober 2025. Transport og lasting kan organiseres mot et pristillegg, europa-dekkende. Bwsdpfx Aovb Hwyenrol Prisene er ekskl. merverdiavgift. Visning etter avtale mulig. Kontakt oss – vårt team hjelper deg gjerne videre. Innbytte eller bytte mulig! Maskiner kjøp/salg KJØP / SALG AV PRODUKSJONS- OG METALLBEARBEIDINGSMASKINER m.m. Trenger du en kvalitetsmaskin for metallbearbeiding til en gunstig pris til din produksjon? Eller ønsker du å selge din maskin? For mer informasjon eller kontaktmuligheter, besøk vår nettside.

Tilstand: klar til bruk (brukt), Sentreringsmaskin KUHN KAZ 80-2 -Maks. arbeidsstykke diameter / Rund 80 mm -Maks. arbeidsstykke diameter / Firkantet 60 mm -Sentreringslengde / Uendelig -Spenningsenhet med selv-sentrerende skrustikke -Spindeldrift 1,8 kW -Borchuck -Sponbakke -Tilkoblingskabel -Gaffeltruckinnføring for transport Bwedpfx Anoyur Uzjrjl Mål: LxBxH 1,7x0,7x1,4 meter / Vekt 600 kg Med forbehold om feil og tastefeil.

Tilstand: god (brukt), roterende spiss, roterende sentreringsspiss, roterende Morse-kon, roterende sentrerspiss, roterende dreiemaskinspiss, sentreringsspiss, sentrerkjegle -Produsent: Lenze ABW, roterende sentrerspiss -Type: ZN 204 -Opptak: MK4 -Dimensjon: Ø 69 x 210 mm -Vekt: 2,1 kg Bjdpjx H Iw Dofx Anrewl

Tilstand: god (brukt), medløpende senter, medløpende konisk senter, medløpende Morse-konus, medløpende sentrerspiss, medløpende dreiebenksenter, sentrerspiss, sentrerkonus Medløpende sentrerspiss: opptak MK4 Type: dessverre uten typebetegnelse Mål: Ø 70 x 210 mm Bwsdpfxsv Uw Nme Anrel Vekt: 1,9 kg

Tilstand: god (brukt), medløpende spiss, medløpende konisk spiss, medløpende Morse-kon, medløpende senterspiss, medløpende dreiebenkspiss, senterspiss, senterkon - Medløpende senterspiss: opptak MK6 - Type: dessverre uten typebetegnelse - Senterspiss: Ø 150 mm - Dimensjon: Ø 150 x 300 mm - Vekt: 10,5 kg Bwedpfjwuyl Nsx Anrel

Tilstand: god (brukt), medløpende senter, medløpende senterspiss, medløpende Morsekonus, medløpende sentreringsspiss, medløpende dreiebenkspiss, senterspiss, sentreringskonus - Produsent: Bruckner, medløpende sentreringsspiss / sentreringskonus - Type: dessverre uten typebetegnelse - Feste: MK5 - Senterspiss: Ø mm - Dimensjoner: Ø 95 x 295 mm - Vekt: 6 kg Bwodpfx Anev T T Ipjrol

Byggeår: 2022, Tilstand: som ny (utstillingsmaskin), Beskrivelse (nøyaktig utstyr): Bedpfx Asytwnkonrswl - 5-aksers scene - Moderne, utvidbar brukergrensesnitt med EDX-integrasjon og bildemontering - SE-detektor - Scintillator-BSE-detektor (innskyvbar) - In-Lens-detektor - Lavvakuumsystem med BSE-detektor (innskyvbar) - Fullt programvareintegrert JEOL-EDX-system (60 mm²) - In-column strømmåling - Navigasjonskamera - Live-kamera - Betjeningspult - Skrivebord, PC med Windows OS, 2 x 24” skjerm, tastatur

Byggeår: 2024, Tilstand: som ny (utstillingsmaskin), JCM-7000 kombinerer enkel prøvenavigasjon med en rekke avanserte autofunksjoner. Et stort prøvekammer, høy oppløsning og en tilkoblingsbar lavvakuummodus for ikke-ledende prøver gjør denne benk-SEM-en til et mobilt allround-talent. Egenskaper: Bwsdpfxjytwbko Anrsl • SE-/BSE-deteksjon • Forstørrelse opptil x100.000, oppløsning ca. 8 nm • Lavvakuumdrift for ikke-ledende prøver • Integrert EDX-system (både maskinvare og programvare) for elementkarakterisering • Live-elementanalyse, sanntidsavbildning (inkl. 3D-avbildning/topografi) • Intuitiv betjening med oppskrifter, autofunksjoner, bildemontasjer m.m. • Stort kammer for prøver opptil 80 mm i diameter eller 50 mm i høyde • Kompakt og mobil • Dimensjoner (hovedenhet): 324 mm B x 586 mm D x 566 mm H

Tilstand: brukt, Byggeår: 1991, Tekniske detaljer: Emnediameter – maks.: 8 – 50 mm Emnelengde: 5 – 500 mm Spindelhastighet: 100 – 1000 o/min Emnediameter – maks.: Ø 50 mm (massivt materiale) Emnediameter – min.: Ø 8 mm (massivt materiale) Emnediameter – maks.: Ø 70 mm (rør) Emnediameter – min.: Ø 8 mm (rør) Godstykkelse: 1 – 10 mm Spisshøyde: 300 mm Spindelgjennomgang: Ø 90 mm Avstikkslengde med svinganslag min./maks.: 5 – 500 mm Totalt effektbehov: ca. 25 kW Maskinvekt ca.: på forespørsel t Maskindimensjoner ca. LxBxH: 5,8 x 1,5 x 1,7 m Dimensjoner styreskap: 1300 x 450 x 1950 mm Dimensjoner L x B x H: kontrollpanel: 0,36 x 0,30 x 0,68 m Dimensjoner L x B x H: materialinnmating: 5,5 x 0,95 x 1,15 m Avstikkdreie- og endebearbeidingsmaskin inkl. matermagasin (Produksjonsprosesser: avkorting og avgrading, avstikking, gjenging, innstikking, sentrering m.m.) Arbeidsprinsipp: Stasjonært materiale – roterende verktøy Ytterligere egenskaper: - Trinnløs dreiehastighet av stikksnitt-/skjærehode 100 – 1000 o/min - Hastighet endebearbeiding: 4 hjulsatser med turtall 52 – 1320 o/min - Fremføring av avstikkhode/verktøy: trinnløs 0 – 0,3 mm/o, med hurtig- og arbeidsløp, hydraulisk - Fremføring av avgradingsenhet: trinnløs 0 – 175 mm/sek. Bwodsu Iww Uepfx Anrsl - Materialmaterhastighet: 170 mm/sek. - Stykkenteller - Maternagasin Betjening skjer via operatørpanel/styretavle i.D.

Tilstand: svært god (brukt), Type: Jeol JSM-6490 Jeol JSM-6490 Scanning Electron Microscope (PC-SEM) Modern, high-resolution, digital scanning electron microscope with newly developed electron optics and intuitive graphical user interface (GUI) running on Microsoft Windows XP Professional. Machine configuration includes the following features: - Magnification range: 5 X - 300,000 X - Acceleration voltage: 0.3 - 30 kV - Tungsten hairpin cathode (LaB6 cathode optional) - Large fully motorized specimen stage with eccentric tilt, incl. graphical navigation on the specimen holder - Simple sample navigation via click-center-zoom - Field-of-view controlled navigation using 2 navigators - Relative coordinate navigation - Save and recall sample positions - Adjustable image section function for the specimen stage - Field correction during rotation using computer-controlled eccentric rotation - Field correction during tilting via computer-controlled eccentric tilting - Calculation of possible tilt angle based on sample geometry - Automatic focus tracking during Z-axis movement of the sample - Intelligent limit switches for the motorized axes - Specimen stage travel: x = 125 mm, y = 100 mm, z = 5 to 80 mm (continuous), T = -10°C to +90°C, R = 360° (continuous) - Secondary electron detector for high-vacuum operation - Innovative super-conical objective lens ensures highest image resolution even at large tilt angles - Guaranteed resolution in SE image: 3 nm at 30 kV, 15 nm at 1 kV - Simultaneous live image display of multiple detectors - Powerful image measurement functions - Movie function for recording dynamic processes - Versatile specimen chamber with numerous expansion options: free flanges, e.g., for EDX, WDX, EBSD, cathodoluminescence, etc. - Low-maintenance and low-wear, quiet pumping system consisting of fore-vacuum pump, vibration-free high-performance diffusion pump, and electromagnetic valve control - Extensive safety features against operator error and external supply failure - Ergonomic, height-adjustable system table - SEM starter kit including 2 sample holders, tool set, and 6 spare cathodes Additional equipment for scanning electron microscope: - Turbomolecular pump in place of the standard diffusion pump; using a turbomolecular pump eliminates the need for cooling water operation of the SEM. Bwedpemn Rcqefx Anrjl Additional SEM equipment: - PC for SEM control including TFT monitor - ΟΧ200 Bruker Quantax 200 EDX System EXTENDED - Bruker EDX software transferred to new owner after purchase - Nitrogen-free energy-dispersive X-ray analysis system including: - SDD detector with 127 eV or better energy resolution - Detection of all elements starting from boron - Vibration-free, maintenance-free, Peltier-cooled (nitrogen-free) - Pulse processor - TFT monitor - Spectrum measurement and element identification - Fully automatic, quantitative, standardless element analysis - Image acquisition - Super-fast qualitative line scan - Super-fast qualitative element mapping - Data management and archiving system - Report generation and results output - Data communication - Installation and training - HyperMap - Multipoint analysis - Bruker xFlash detector (SDD) with SVE III signal processing unit Scope of delivery: (see photos) Condition: used (Technical data, specifications and information subject to change. Errors and omissions excepted!)

Tilstand: svært god (brukt), TAMAR Type: FEMET_WI_ID071_TAMAR optical microscope PLMIS Optical microscope The TAMAR Optical Microscope ID071 is used for the optical inspection of samples with a maximum size of approx. 780x650mm² (substrate size) in the PLG cleanroom. Substrate size: complete substrate size (780x650mm²) Objective: The objective lens focuses the light emitted from the observed object into a real image for the user. Brightfield mode (BF): The light from the microscope is directed through the objective onto the sample. High resolution, low contrast Darkfield mode (DF): Illumination mode for increased contrast, high contrast for edges and particles. Principle: The center of the incident light beam is covered, only peripheral light passes through the objective and strikes the sample from the side. Edges and particles thus appear bright, while the smooth background remains dark. TAMAR Optical Microscope ID071 X-Y Stage Software Revision: 1.0 Bjdpeh Nmtgofx Anrswl Condition: used Scope of delivery: (autosampler as pictured) (Subject to change and errors in technical data and information!) We are happy to answer any further questions by phone.

Tilstand: svært god (brukt), ZEISS Modell: DSM 962 Det digitaliserte rasterelektronmikroskopet DSM 962 er utstyrt med en integrert 4 MB bildebuffer, en 40 MB harddisk for intern bildelagring, samt stasjoner for ekstern lagring av data og bilder. Dette gjør det mulig å raskt og enkelt oppnå kunnskap om sammensetningen og morfologien til overflater på prøver, helt ned i sub-mikrometernivå. Med et forstørrelsesområde fra 5x til 300.000x er det mulig å undersøke både makrostrukturer og mikrostrukturer. Gjennom spesielle tillegg kan bruksområdet utvides betydelig, slik at for eksempel analytiske undersøkelser i mikroområder på overflaten muliggjøres. Betjeningen av apparatet kan skje både via konvensjonelle brytere samt via tastatur og mus (tillegg). Elektronoptikk og vakuumkontroll styres på konvensjonelt vis. Funksjoner for bildebufferen betjenes med tastatur eller mus (tillegg). Sentralt på betjeningspanelet er det en egen infoskjerm for visning av menyer. Denne bruksanvisningen skal fungere som en veiledning for brukeren, slik at best mulige resultater oppnås med apparatet. Forklaringene er holdt så enkle som mulig for å gi også mindre erfarne brukere nødvendig kompetanse. Forstørrelsesområde: 20x til 300.000x ved 7 mm arbeidsavstand Trinn i rekkefølge 1-2-3-5-10 Minste forstørrelse: 5x ved 50 mm arbeidsavstand Oppløsning: 4 nm – garantert med wolframkatode ved 30 kV, 6 mm arbeidsavstand, ikke-vippet prøve 25 nm – garantert med wolframkatode ved 1 kV, 6 mm arbeidsavstand, ikke-vippet prøve 3,5 nm – garantert med optimal LaB6-katode ved 30 kV, 6 mm arbeidsavstand, ikke-vippet prøve Leveringsomfang: (DSM 962 med tilbehør som vist på bildet) Tilstand: brukt (Endringer og feil i tekniske data og opplysninger forbeholdes!) Vennligst avklar transportmuligheter før kjøp. For ytterligere spørsmål, vennligst kontakt oss på telefon. Bwjdpfefcwwnox Anrel

Tilstand: brukt, Kantklipper WD: - motoreffekt 55 kW - to bevegelige hylser - hylselengde 60 mm - maksimal sagbladdiameter 400 mm - hydraulisk justering av sagblader Bodpfx Anexuipbsrjwl - fire nedre trekkvalser - to øvre trekkvalser Sentrerende rullebord: - total lengde 7000 mm - total bredde 160 mm - fem nedre trekkvalser - valse-diameter 160 mm - lengde 1000 mm - fire øvre hydrauliske presser - seks material-sentreringsklemmer - hydraulisk fremtrekk

Tilstand: svært god (brukt), Byggeår: 1976, Her tilbys det sentrerings- og planverktøy for en UMA senke- og sentrermaskin av typen SZM 80/800. Det finnes ca. 11 komplette sett for bearbeiding av begge sider. Vennligst se bildene for mer informasjon. Bsdpfx Aehfww Isnrswl Merk: Kun verktøyene tilbys, maskinen er solgt! Kjøp kan skje samlet eller settvis etter forespørsel. Holderen er spesielt tilpasset UMA SZM-maskiner.

Byggeår: 2024, Tilstand: ny, - 10000 mm standard lengde - 800 mm standard rullebredde - 2,2 kW drivmotor for rullerbane - 0,75 kW drivmotor for innmatingsrulle Bwodpebrq R Dsfx Anrsl - pneumatisk rulleløft - pneumatisk sentrering

Tilstand: nesten som ny (brukt), Byggeår: 2024, Funksjonalitet: fullt funksjonell, Rasterelektronmikroskop av typen Zeiss XB 350 Utstyr og tilbehør Bwjdow Rdvvopfx Anrel • uten FIB-søyle • SmartSEM- og SmartFIB-programvare • GIS med Pt-prekursor • integrert plasma-cleaner • EDX Oxford Xplore 30 (inkl. grensesnitt og programvare) • automatisk 200 mm sluse • elektrisk gjennomføring (2 x 15 kanaler) • sirkulasjonskjøler • Quiet Mode vakuumbuffertank • ... samt bord, skjerm, betjeningskonsoller (Zeiss proprietært tastatur + joystick) og diverse prøveholdere Idriftsettelse: august 2024 Lokasjon: Mainz Tilgjengelighet: tilgjengelig på kort varsel etter avtale. Enheten er fortsatt i bruk og kan gjerne besiktiges og demonstreres. Enheten er uten feil eller skader og er fullt funksjonell. Ytterligere informasjon gis gjerne på forespørsel!

Tilstand: svært god (brukt), -KOM 3082- Til salgs er en medløpende senterspiss fra produsenten Bruckner. Denne senterspissen tilsvarer ikke noen vanlig standard. Tekniske data: Minimum diameter: ca. 84 mm Maksimum diameter: ca. 90 mm Skaftets lengde: ca. 248 mm Vekt: ca. 40 kg Bwsdpfx Aeww Umtonrsl

Tilstand: brukt, Leica Reichert Lynx vevsprosessor for mikroskopi Bwsdpfsxzidfsx Anrsl

Tilstand: brukt, Funksjonalitet: ukontrollert, maskin-/kjøretøynummer: SX-50, Gebruikte Cameca SX-50 Elektronenmicrosonde De Cameca SX-50 elektronenmicrosonde wordt ingezet voor Elektronenbundelmicroanalyse (EPMA). Dit systeem is uitgerust met een 6-inch monsterstage en beschikt over 3 WDX-spectrometers voorzien van diverse kristallen: LiF, PET, TAP, ODPb, PC1, PC2 en PC3. EPMA-technologieën gelden als micro-analytische methoden waarmee materialen op een zeer hoge resolutie kunnen worden geanalyseerd of in beeld gebracht, hetgeen met optische technieken doorgaans niet mogelijk is. Het systeem wordt compleet geleverd inclusief alle boeken, servicemanuals, software en computer. Tevens zijn diverse onderdelen inbegrepen. Inclusief: - 1 x Leybold Trivac D16B vacuümpomp Bsdpfx Aownb D Tenrswl - 1 x Alcatel 2012 A vacuümpomp - 2 x geïntegreerde turbopompen