Kjøp brukt Cameca Elektronmikroskop (5)

Tilstand: brukt, Funksjonalitet: ukontrollert, maskin-/kjøretøynummer: SX-50, Gebruikte Cameca SX-50 Elektronenmicrosonde Dedpewnb D Tofx Afvjwa De Cameca SX-50 elektronenmicrosonde wordt ingezet voor Elektronenbundelmicroanalyse (EPMA). Dit systeem is uitgerust met een 6-inch monsterstage en beschikt over 3 WDX-spectrometers voorzien van diverse kristallen: LiF, PET, TAP, ODPb, PC1, PC2 en PC3. EPMA-technologieën gelden als micro-analytische methoden waarmee materialen op een zeer hoge resolutie kunnen worden geanalyseerd of in beeld gebracht, hetgeen met optische technieken doorgaans niet mogelijk is. Het systeem wordt compleet geleverd inclusief alle boeken, servicemanuals, software en computer. Tevens zijn diverse onderdelen inbegrepen. Inclusief: - 1 x Leybold Trivac D16B vacuümpomp - 1 x Alcatel 2012 A vacuümpomp - 2 x geïntegreerde turbopompen

Tilstand: svært god (brukt), ZEISS Modell: DSM 962 Det digitaliserte rasterelektronmikroskopet DSM 962 er utstyrt med en integrert 4 MB bildebuffer, en 40 MB harddisk for intern bildelagring, samt stasjoner for ekstern lagring av data og bilder. Dette gjør det mulig å raskt og enkelt oppnå kunnskap om sammensetningen og morfologien til overflater på prøver, helt ned i sub-mikrometernivå. Med et forstørrelsesområde fra 5x til 300.000x er det mulig å undersøke både makrostrukturer og mikrostrukturer. Gjennom spesielle tillegg kan bruksområdet utvides betydelig, slik at for eksempel analytiske undersøkelser i mikroområder på overflaten muliggjøres. Betjeningen av apparatet kan skje både via konvensjonelle brytere samt via tastatur og mus (tillegg). Elektronoptikk og vakuumkontroll styres på konvensjonelt vis. Funksjoner for bildebufferen betjenes med tastatur eller mus (tillegg). Sentralt på betjeningspanelet er det en egen infoskjerm for visning av menyer. Denne bruksanvisningen skal fungere som en veiledning for brukeren, slik at best mulige resultater oppnås med apparatet. Forklaringene er holdt så enkle som mulig for å gi også mindre erfarne brukere nødvendig kompetanse. Forstørrelsesområde: 20x til 300.000x ved 7 mm arbeidsavstand Trinn i rekkefølge 1-2-3-5-10 Minste forstørrelse: 5x ved 50 mm arbeidsavstand Oppløsning: 4 nm – garantert med wolframkatode ved 30 kV, 6 mm arbeidsavstand, ikke-vippet prøve Dwsdjzdthyepfx Afvja 25 nm – garantert med wolframkatode ved 1 kV, 6 mm arbeidsavstand, ikke-vippet prøve 3,5 nm – garantert med optimal LaB6-katode ved 30 kV, 6 mm arbeidsavstand, ikke-vippet prøve Leveringsomfang: (DSM 962 med tilbehør som vist på bildet) Tilstand: brukt (Endringer og feil i tekniske data og opplysninger forbeholdes!) Vennligst avklar transportmuligheter før kjøp. For ytterligere spørsmål, vennligst kontakt oss på telefon.

Tilstand: svært god (brukt), Type: Jeol JSM-6490 Jeol JSM-6490 Scanning Electron Microscope (PC-SEM) Modern, high-resolution, digital scanning electron microscope with newly developed electron optics and intuitive graphical user interface (GUI) running on Microsoft Windows XP Professional. Machine configuration includes the following features: - Magnification range: 5 X - 300,000 X - Acceleration voltage: 0.3 - 30 kV - Tungsten hairpin cathode (LaB6 cathode optional) - Large fully motorized specimen stage with eccentric tilt, incl. graphical navigation on the specimen holder - Simple sample navigation via click-center-zoom - Field-of-view controlled navigation using 2 navigators - Relative coordinate navigation - Save and recall sample positions - Adjustable image section function for the specimen stage - Field correction during rotation using computer-controlled eccentric rotation - Field correction during tilting via computer-controlled eccentric tilting - Calculation of possible tilt angle based on sample geometry - Automatic focus tracking during Z-axis movement of the sample - Intelligent limit switches for the motorized axes - Specimen stage travel: x = 125 mm, y = 100 mm, z = 5 to 80 mm (continuous), T = -10°C to +90°C, R = 360° (continuous) - Secondary electron detector for high-vacuum operation - Innovative super-conical objective lens ensures highest image resolution even at large tilt angles - Guaranteed resolution in SE image: 3 nm at 30 kV, 15 nm at 1 kV - Simultaneous live image display of multiple detectors - Powerful image measurement functions - Movie function for recording dynamic processes - Versatile specimen chamber with numerous expansion options: free flanges, e.g., for EDX, WDX, EBSD, cathodoluminescence, etc. - Low-maintenance and low-wear, quiet pumping system consisting of fore-vacuum pump, vibration-free high-performance diffusion pump, and electromagnetic valve control - Extensive safety features against operator error and external supply failure - Ergonomic, height-adjustable system table - SEM starter kit including 2 sample holders, tool set, and 6 spare cathodes Additional equipment for scanning electron microscope: - Turbomolecular pump in place of the standard diffusion pump; using a turbomolecular pump eliminates the need for cooling water operation of the SEM. Additional SEM equipment: - PC for SEM control including TFT monitor - ΟΧ200 Bruker Quantax 200 EDX System EXTENDED - Bruker EDX software transferred to new owner after purchase - Nitrogen-free energy-dispersive X-ray analysis system including: - SDD detector with 127 eV or better energy resolution - Detection of all elements starting from boron - Vibration-free, maintenance-free, Peltier-cooled (nitrogen-free) - Pulse processor - TFT monitor - Spectrum measurement and element identification - Fully automatic, quantitative, standardless element analysis - Image acquisition - Super-fast qualitative line scan - Super-fast qualitative element mapping - Data management and archiving system - Report generation and results output - Data communication - Installation and training - HyperMap - Multipoint analysis Dwedpfx Afjzd Ufajvea - Bruker xFlash detector (SDD) with SVE III signal processing unit Scope of delivery: (see photos) Condition: used (Technical data, specifications and information subject to change. Errors and omissions excepted!)

Byggeår: 2024, Tilstand: som ny (utstillingsmaskin), Funksjonalitet: fullt funksjonell, JCM-7000 kombinerer enkel prøvenavigasjon med en rekke avanserte autofunksjoner. Et stort prøvekammer, høy oppløsning og en tilkoblingsbar lavvakuummodus for ikke-ledende prøver gjør denne benk-SEM-en til et mobilt allround-talent. Dsdpfxszn Ih Ao Afvswa Egenskaper: • SE-/BSE-deteksjon • Forstørrelse opptil x100.000, oppløsning ca. 8 nm • Lavvakuumdrift for ikke-ledende prøver • Integrert EDX-system (både maskinvare og programvare) for elementkarakterisering • Live-elementanalyse, sanntidsavbildning (inkl. 3D-avbildning/topografi) • Intuitiv betjening med oppskrifter, autofunksjoner, bildemontasjer m.m. • Stort kammer for prøver opptil 80 mm i diameter eller 50 mm i høyde • Kompakt og mobil • Dimensjoner (hovedenhet): 324 mm B x 586 mm D x 566 mm H

Byggeår: 2022, Tilstand: som ny (utstillingsmaskin), Funksjonalitet: fullt funksjonell, Beskrivelse (detaljert spesifikasjon): o 5-akset plattform Dwodpfx Afezn Ihpevsa o Moderne, utvidbart brukergrensesnitt med EDX-integrasjon og bildebehandling o SE-detektor o Scintillator-BSE-detektor (kan trekkes tilbake) o In-lens-detektor o Lavvakuumsystem med BSE-detektor (kan trekkes tilbake) o Fullstendig programvareintegrert JEOL-EDX-system (60 mm²) o Strømmåling i kolonnen o Navigeringskamera o Live-kamera o Kontrollpanel o Skrivebord, PC med Windows-operativsystem, 2 x 24" skjerm, tastatur