Målesystem

Leica EM TXP

EM TXP er et unikt apparat utviklet for presis preparering av et bredt spekter av materialer og materialforbindelser med lokalt svært små feil. Spesielt utviklet for saging, fresing, sliping og polering av krevende, små og uhåndterlige prøver, hvor arbeidsprosessen overvåkes med et stereomikroskop og den endelige undersøkelsen kan utføres i et rasterelektronmikroskop eller lysmikroskop uten avbrudd i de individuelle arbeidsprosessene.

EM TXP tilbyr i tillegg en svært god mulighet for forberedelse av materialer der en skråsnitt skal fremstilles ved hjelp av et ionepoleringssystem.
Gsdsytrwaspfx Agyobi

med følgende tilbehør:
1 stk Stereomikroskop M80 komplett
1 stk Kryssbord for M80, 12 mm
1 stk Bevegelig objektivadapter for M80
1 stk Vinkeljusteringsadapter
1 stk Diamantsagblad
1 stk Diamantsagblad
1 stk Spesialfres med 6 mm Ø diamantskjær
1 stk Spesialfres med 12 mm Ø diamantskjær
1 stk Spesialfres med 8 mm Ø hårdmetallfres
1 stk Spesialfres med 12 mm Ø hårdmetallfres
5 stk Spindel
3 stk Holder for polerfolie
1 stk Polerfolie 15µm, SiC, Ø 30 mm
1 stk Polerfolie 9µm, SiC, Ø 30 mm
1 stk Polerfolie 5µm, SiC, Ø 30 mm
3 stk Holder for polerfolie
1 stk Polerfolie 9µm, diamant (type U)
1 stk Polerfolie 2µm, diamant (type U)
1 stk Polerfolie 0,5µm, diamant (type U)
1 stk Polerfolie 0,1µm, diamant (type LA)
3 stk Holder for polerfolie
1 stk Polerfolie 9µm, aluminiumoksid
1 stk Polerfolie 3µm, aluminiumoksid
1 stk Polerfolie 1µm, aluminiumoksid
1 stk Polerfolie 0,3µm, aluminiumoksid
1 stk Neoprenklut for sluttpolering (8 stk.)
2 stk Boks for holdere og folier
1 stk Holder for flate prøver 0–4 mm
1 stk Flat prøveholder 3–8 mm
1 stk TXP SEM STUB holder
1 stk Universell prøveholder

Annonsen ble oversatt automatisk. Oversettelsesfeil kan forekomme.