Skanning elektronmikroskop (PC-SEM)Jeol
JSM-6490 Bruker XFlash Detektor
Skanning elektronmikroskop (PC-SEM)
Jeol
JSM-6490 Bruker XFlash Detektor
fast pris pluss MVA
€ 35 000
Tilstand
Brukt
Plassering
Borken 

Bilder viser
Vis kart
Data om maskinen
Pris og beliggenhet
fast pris pluss MVA
€ 35 000
- Plassering:
- Einsteinstraße 8a, 46325 Borken, Deutschland

Ring
Detaljer om tilbudet
- Annonse-ID:
- A10874957
- Referansenummer:
- 23543
- Oppdatering:
- sist oppdatert 15.11.2024
Beskrivelse
Her tilbyr vi et Jeol rasterelektronmikroskop.
Jeol JSM-6490 rasterelektronmikroskop (PC-SEM)
Moderne, høyoppløselig, digitalt rasterelektronmikroskop med nyutviklet elektronoptikk og intuitivt, grafisk brukergrensesnitt (GUI) under Microsoft WindowsXP Professional.
Forstørrelsesområde: 5 X - 300.000 X
Akselerasjonsspenning: 0,3 - 30 kV
Wolfram hårnål-katode (LaB6-katode valgfritt)
Stor, fullmotorisert prøvestasjon med ekte senter-rotering, inkl.
Grafisk navigasjon på prøveholder
Enkel prøvenavigasjon via Click-Center-Zoom
Bildefeltstyrt navigasjon via 2 navigatorer
Relativ koordinatnavigering
Lagring og gjenhenting av prøveposisjoner
Justerbar utvalgsmulighet for prøvestasjonsutsnitt
Bildefeltkorreksjon under rotasjon via datastyrt ekte sentrisk rotasjon
Bildefeltkorreksjon under tilting via datastyrt ekte sentrisk tilting
Beregning av mulig tiltvinkel basert på prøvegeometrien
automatisk fokussporing ved vertikal bevegelse av prøven
Intelligente endestoppsbrytere for motoriserte akser
Bevegelsesområde prøvestasjon:
X= 125mm
Y= 100mm
Z= 5 til 80 mm (trinnløs)
T= -10°C til +90°C
R= 360° (uendelig rotasjon)
Sekundærelektrondetektor for høyvakuumdrift
Ny superkonisk objektivlinse garanterer høyeste bildekvalitet også ved store tilt-vinkler
Garantert oppløsning i SE-bilde: 3 nm ved 30 kV og 15 nm ved 1 kV
Samtidig sanntidsvisning fra flere detektorer
Enkel prøvenavigering via Click-Center-Zoom
Kraftige funksjoner for bildemåling
Filmfunksjon for opptak av dynamiske prosesser
Allsidig prøvekammer med mange utvidelsesmuligheter: frie flenser f.eks. for EDX, WDX, EBSD, katodoluminescens etc.
Vedlikeholds- og slitesterkt, støysvakt pumpsystem bestående av forpumpe, vibrasjonsfri høyytelses diffusionspumpe samt elektromagnetisk ventilstyring
Omfattende feilbeskyttelse mot feilbetjening og bortfall av eksterne medier
Ergonomisk, høydejusterbart systembord
SEM-startkit bestående av 2 prøveholdere, verktøysett samt 6 reservedeler til katoden
Ekstrautstyr:
2x ΜΡ-43100 (TMP)
Turbomolekylærpumpe i stedet for standard diffusionspumpe
Ved bruk av turbomolekylærpumpe er det ikke lenger behov for kjølevann til SEM-drift.
Annet utstyr:
PC for styring av SEM inkl. TFT-skjerm
ΟΧ200 Bruker Quantax 200 EDX-system EXTENDED
Nitrogenfritt, energidispersivt røntgenanalysesystem inkl.:
SDD-detektor med 127 eV eller bedre energioppløsning
Påvisning av alle elementer fra bor
Vibrasjonsfri, vedlikeholdsfri. Peltierkjølt (nitrogenfri)
Pulprosessor
TFT-skjerm
Spektrummåling og elementidentifisering
Fullautomatisert, kvantitativ, standardfri elementanalyse
Bildeinnhenting
Rask kvalitativ LineScan
Rask kvalitativ elementkartlegging
Datastyrings- og arkiveringssystem
Rapportgenerering og resultatutsendelse
Datakommunikasjon
Installasjon og opplæring
HyperMap
Multipunktanalyse
Bruker xFlash detektor (SDD) med signalbehandlingsenhet SVE III
Type: Jeol JSM-6490
Leveringsomfang: (Se bilder)
Tilstand: brukt
Ijdjmn Rcqopfx Aggoii
(Endringer og feil i tekniske data og opplysninger forbeholdes!)
Flere spørsmål kan vi gjerne besvare på telefon.
Annonsen ble oversatt automatisk. Oversettelsesfeil kan forekomme.
Jeol JSM-6490 rasterelektronmikroskop (PC-SEM)
Moderne, høyoppløselig, digitalt rasterelektronmikroskop med nyutviklet elektronoptikk og intuitivt, grafisk brukergrensesnitt (GUI) under Microsoft WindowsXP Professional.
Forstørrelsesområde: 5 X - 300.000 X
Akselerasjonsspenning: 0,3 - 30 kV
Wolfram hårnål-katode (LaB6-katode valgfritt)
Stor, fullmotorisert prøvestasjon med ekte senter-rotering, inkl.
Grafisk navigasjon på prøveholder
Enkel prøvenavigasjon via Click-Center-Zoom
Bildefeltstyrt navigasjon via 2 navigatorer
Relativ koordinatnavigering
Lagring og gjenhenting av prøveposisjoner
Justerbar utvalgsmulighet for prøvestasjonsutsnitt
Bildefeltkorreksjon under rotasjon via datastyrt ekte sentrisk rotasjon
Bildefeltkorreksjon under tilting via datastyrt ekte sentrisk tilting
Beregning av mulig tiltvinkel basert på prøvegeometrien
automatisk fokussporing ved vertikal bevegelse av prøven
Intelligente endestoppsbrytere for motoriserte akser
Bevegelsesområde prøvestasjon:
X= 125mm
Y= 100mm
Z= 5 til 80 mm (trinnløs)
T= -10°C til +90°C
R= 360° (uendelig rotasjon)
Sekundærelektrondetektor for høyvakuumdrift
Ny superkonisk objektivlinse garanterer høyeste bildekvalitet også ved store tilt-vinkler
Garantert oppløsning i SE-bilde: 3 nm ved 30 kV og 15 nm ved 1 kV
Samtidig sanntidsvisning fra flere detektorer
Enkel prøvenavigering via Click-Center-Zoom
Kraftige funksjoner for bildemåling
Filmfunksjon for opptak av dynamiske prosesser
Allsidig prøvekammer med mange utvidelsesmuligheter: frie flenser f.eks. for EDX, WDX, EBSD, katodoluminescens etc.
Vedlikeholds- og slitesterkt, støysvakt pumpsystem bestående av forpumpe, vibrasjonsfri høyytelses diffusionspumpe samt elektromagnetisk ventilstyring
Omfattende feilbeskyttelse mot feilbetjening og bortfall av eksterne medier
Ergonomisk, høydejusterbart systembord
SEM-startkit bestående av 2 prøveholdere, verktøysett samt 6 reservedeler til katoden
Ekstrautstyr:
2x ΜΡ-43100 (TMP)
Turbomolekylærpumpe i stedet for standard diffusionspumpe
Ved bruk av turbomolekylærpumpe er det ikke lenger behov for kjølevann til SEM-drift.
Annet utstyr:
PC for styring av SEM inkl. TFT-skjerm
ΟΧ200 Bruker Quantax 200 EDX-system EXTENDED
Nitrogenfritt, energidispersivt røntgenanalysesystem inkl.:
SDD-detektor med 127 eV eller bedre energioppløsning
Påvisning av alle elementer fra bor
Vibrasjonsfri, vedlikeholdsfri. Peltierkjølt (nitrogenfri)
Pulprosessor
TFT-skjerm
Spektrummåling og elementidentifisering
Fullautomatisert, kvantitativ, standardfri elementanalyse
Bildeinnhenting
Rask kvalitativ LineScan
Rask kvalitativ elementkartlegging
Datastyrings- og arkiveringssystem
Rapportgenerering og resultatutsendelse
Datakommunikasjon
Installasjon og opplæring
HyperMap
Multipunktanalyse
Bruker xFlash detektor (SDD) med signalbehandlingsenhet SVE III
Type: Jeol JSM-6490
Leveringsomfang: (Se bilder)
Tilstand: brukt
Ijdjmn Rcqopfx Aggoii
(Endringer og feil i tekniske data og opplysninger forbeholdes!)
Flere spørsmål kan vi gjerne besvare på telefon.
Annonsen ble oversatt automatisk. Oversettelsesfeil kan forekomme.
Tilbyder
Merk: Registrer deg gratis eller logg inn, for å få tilgang til all informasjon.
Registrert siden: 2012
Send forespørsel
Telefon & Faks
+49 2861 ... annonser
Disse annonsene kan også være av interesse for deg.
Annonse
Borken
959 km
Trekk- og trykkrafttestbenk
Zwick RoellUniversalprüfmaschine
Zwick RoellUniversalprüfmaschine
Annonse
Iszkaszentgyörgy
1 604 km
Wire EDM -maskin
SodickALC600G
SodickALC600G
Annonse
Bořitov
1 332 km
Utstyr for varmebehandling
VeoliaRV F 15 FF3
VeoliaRV F 15 FF3
Annonse
St. Gallen
1 452 km
Løsemiddelrengjøringssystem mod. alkohol
IFP-MetalcleanMetalclean-50 EASY
IFP-MetalcleanMetalclean-50 EASY
Annonse
Essen
1 034 km
Industrirobot
KUKA KR120 palletizer (nearly new)
KUKA KR120 palletizer (nearly new)
Annonse
Denkendorf
1 298 km
Koordinere måling maskin
Brown & SharpeDEA Mistral
Brown & SharpeDEA Mistral
Annonse
Borken
964 km
Skanning elektronmikroskop
ZeissEVO 50 inkl. EDS Ultim Max 100
ZeissEVO 50 inkl. EDS Ultim Max 100
Annonse
Burgdorf
897 km
Renrom / Renrom ISO 6
ABNStericube Matrix ISO 6
ABNStericube Matrix ISO 6
Annonse
Val-au-Perche
1 447 km
Laserskjæremaskin
TRUMPFTruLaser Cell 8030 L45
TRUMPFTruLaser Cell 8030 L45
Annonsen din har blitt slettet
Det har oppstått en feil


















































































































