Komponent

unbekannt CTX125 X-RAY System Kontrolleinheit

Byggeår: 2025, Tilstand: ny, Røntgeninspeksjonssystem for mellomstore pakker og poser. Egnet for deteksjon av fremmedlegemer av metall, glass, stein, plast osv. i næringsmidler eller ikke-matvarer. - Spesifikasjoner: Transportbåndbredde: 410 mm; Deteksjonsnøyaktighet: bly fra Ø 0,2 mm, jern fra Ø 0,28 mm, rustfritt stål fra Ø 0,28 mm, ikke-metallisk som stein, glass, fra Ø 1,2 mm; Røntgenytelse: 80 kVp, 1,25 mA; Detektoroppløsning: 0,4 mm; Røntgenstråleutslipp: < 1 µSv/h; Transportbåndhøyde: 850 ± 30 mm; Transportbåndhastighet (avhengig av produkt): 10–100 m/min; Betjeningspanel: 15" berøringsskjerm; Programvare: intellisens®X-ray; Driftstemperatur: 5–35 °C; Utkastssystem: tilgjengelig som opsjon i henhold til krav; Strøm: 220 VAC, 50/60Hz; Systemdimensjoner: L900xB920xH1825 mm; Vekt: 350 kg. Kodpov Nm Insfx Ab Dsll Vennligst merk at våre nypriser ofte er lavere enn vanlige bruktpriser. Spør gjerne og fortell oss om din pakkeløsning. Vi har normalt 30–50 ulike nye maskiner tilgjengelig fra lager for umiddelbar levering. For kundespesifikke maskiner tilbyr vi svært korte leveringstider fra ca. 3 uker. – Alle maskiner leveres med full garanti.

Tilstand: Defekt reservedelsbærer (brukt), Oxford Instruments Oxford Instruments X-Strata 960 røntgenfluorescensanalysator – reservedelsdonor / defekt Varebeskrivelse: Til salgs er en brukt røntgenfluorescensanalysator av typen Oxford Instruments X-Strata 960. Enheten kommer fra nedleggelse av et laboratorium og tilbys utelukkende som reservedelsdonor eller til reparasjonsformål. Det er ikke utført noen funksjonstest – derfor anses enheten som defekt i forbindelse med salget. Tekniske data – Oxford Instruments X-Strata 960 (uten forpliktelse) Egenskap Beskrivelse Modell X-Strata 960 Produsent Oxford Instruments Analyseteknologi Røntgenfluorescensanalyse (XRF) Bruksområder Tykkelsesmåling, materialanalyse, edelmetalltesting Målegeometri Topp- eller bunnbestråling avhengig av konfigurasjon Strålingskilde Røntgenrør (f.eks. rhodium-anode), 50–100 W effekt Detektor Proporsjonstæller eller silisiumdriftdetektor (SDD), avhengig av utførelse Måleområde Beleggtykkelse ca. 0,005 – 50 µm (materialavhengig) Punktstørrelse Ca. 15 μm – 1 mm (avhengig av kollimator) Z-akse Motorisert, målehøyde opptil ca. 230 mm Prøverom (B × D × H) ca. 580 × 510 × 230 mm Prøvebord Manuelt eller motorisert (200 × 200 mm eller større, avhengig av utstyr) Fokussystem Optisk / laserfokus, delvis automatisk Operativsystem Integrert industri-PC med Windows-basert evalueringsprogramvare Strømforsyning 220–240 V / 50–60 Hz / ca. 500–800 W Vekt Ca. 150–200 kg (avhengig av utførelse) Tilstand: brukt / defekt / som reservedelsdonor Leveringsomfang: som vist på bilder – uten tilbehør eller programvare Viktig informasjon: Salget skjer utelukkende som defekt enhet uten funksjonsgaranti. Artikkelen tilbys som reservedelsdonor eller for hobbyteknikere. Ingen garanti for funksjon, fullstendighet eller tekniske spesifikasjoner. Næringsmessig salg under utelukkelse av ethvert krav om mangler iht. § 447 BGB (forsendelseskjøp). Leveringsomfang: Oxford Instruments X-Strata 960 Alle komponenter som vises på bildene Ytterligere deler, tilbehør eller dokumentasjon er ikke inkludert, med mindre det er uttrykkelig nevnt. Frakt & henting: Henting mulig og foretrukket i Borken Klodpfehaapfsx Ab Dsl Frakt kan avtales. (Endringer og feil i tekniske data forbeholdes!) Vi svarer gjerne på ytterligere spørsmål via telefon.

Byggeår: 2016, Tilstand: svært god (brukt), Automatisk røntgeninspeksjon For inspeksjon av BGA-, QFN-, THT-, LED-, LGA- og andre loddepunkter, synlige eller skjulte. Diverse: Inkl. offline-stasjon og reparasjonsstasjon OS: Windows 7 Ultra-hastighets line-scanning CCD-detektorer Inspeksjonsområde: 450 mm x 400 mm Bildeopptak: 2D, 2,5D, 3D (lagbilder med planart CT) PCB-dimensjoner: 60 - 450 x 50 - 400 mm AXI-oppløsning: 6 - 30 µm/pixel AOI: Kamerafelt: 42 mm x 42 mm Oppløsning: 21 µm Inspeksjonshøyde: -3 til 7,5 mm Optikk: telecentrisk Transporthøyde: 950 mm +/- 25 mm Kledpfswpuadex Ab Del Grensesnitt: SMEMA Automatisk breddejustering

Byggeår: 2016, Tilstand: klar til bruk (brukt), Et nesten nytt røntgeninspeksjonssystem fra Anritsu er tilgjengelig. Røntgeneffekt: 100W, maks. deteksjonsbredde: 240 mm, maks. deteksjonshøyde: 120 mm, deteksjonshastighet for produkter fra 2 kg til 5 kg: 10–60 m/min, deteksjonshastighet for produkter opptil 2 kg: 60–90 m/min, deteksjonshastighet for produkter fra 5 kg til 10 kg: 10–40 m/min. Kabinettmateriale: rustfritt stål. Maskinvekt: ca. 255 kg. Driftstimer: under 50 timer. Maskinen har ingen slitasje på transportbånd eller strålingsbeskyttelsesgardiner. Dokumentasjon foreligger. Inspeksjon på stedet er mulig. Kodpfx Asvzr Aujb Djll

Tilstand: brukt, PANalytical PANalytical X’Pert PRO MPD Røntgendiffraktometer (XRD) Utdrag fra service-rapport: Enhet: PANalytical X’Pert PRO MPD Utført dato: 07.07.2021 Utførte arbeider: - Gjenoppstilling og igangkjøring av systemet - Tilkobling av eksterne forsyningslinjer - Oppvarmingsfase - Fullstendig justering av goniometer og øvrige komponenter - Gjennomført vedlikehold inkl. bytte av defekte deler Brukte reservedeler: L 3.6V NC/U3 R15.0X52.0 BATTERI. NI-CD FAN TIL X-CELERATOR UNIT FAN FILTER FILTER, VANN Motor PW3050 (“Enheten ble ikke testet hos oss i huset”) X’Pert PRO MPD er et svært allsidig og kraftig røntgendiffraktometer (XRD) for strukturell karakterisering av krystallinske materialer. – Perfekt for ren forskning samt rutineapplikasjoner i industri og universitet. Takket være sin modulære konstruksjon, raske deteksjon, temperatur- og atmosfæreregulering er den ideell for både rutineanalyser og komplekse in situ-eksperimenter. Viktige egenskaper: Ulike målegeometrier mulig: - Refleksjon i Bragg-Brentano (θ–2θ)-modus Kedpfx Abowycate Doll - Transmisjonsgeometri for pulver i kapillærer - Alternativt SAXS (Small-Angle X-ray Scattering) for nanostrukturer Strålingskilde og detektorer: - Vanligvis kobberanode (Cu-Kα, λ ≈ 1,54 Å) - X’Celerator-detektor (1D, ultrarask) for parallell datainnsamling Modulært system med PreFIX-teknologi: - Raskt bytte av optikk og prøvestativer uten ny kalibrering In situ-målinger ved høy temperatur: - Målinger opp til ca. 1200°C mulig - Kontrollert atmosfære: luft, nitrogen, oksygen (begrenset reduktivt) Typiske bruksområder: - Faseanalyse og kvantitativ Rietveld-evaluering - Bestemmelse av krystallittstørrelse, mikrodeformasjon, egen-spenninger - In-situ-undersøkelse av faseoverganger, oksidasjon, krystallisering etc. - SAXS-målinger for analyse av nanopartikler, porestrukturer - Bredt prøvespekter: pulver, tynne filmer, keramikk, farmasøytiske produkter, katalysatorer m.m. Tekniske data (typisk) Egenskap og spesifikasjon Vinkelområde (2θ) ca. 0,5° til 150° Trinnstørrelse ned til 0,002° eller finere Goniometer vertikal, 0–0, radius ca. 240 mm Temperaturområde romtemperatur opp til ca. 1200 °C Atmosfære luft, N₂, O₂ (begrenset reduktivt) Detektorer X’Celerator (1D), proporsjonsteller Bruk og brukssteder: X’Pert PRO MPD er i bruk over hele verden, bl.a. ved: - Universiteter (ETH Zürich, TU Dresden, Uni Wien) - Forskningsinstitutter (f.eks. Max-Planck-Institutter, ICN2, IS2M) - Industri (f.eks. materialutvikling, farmasi, kjemi) Tilstand: brukt Leveringsomfang: (Se bilde) (Endringer og feil i de tekniske data, forbehold om oppdateringer!) Ytterligere spørsmål kan vi gjerne besvare på telefon.

Tilstand: god (brukt), Helmut Fischer Fischerscope røntgenfluorescens lagtykkelsesmåler XDL-XYmZ Ksdpfxsw Hbkde Ab Dsll