Flying Probe Test System

Seica Pilot V8 Auto-SW-001

En Flying Probe-tester Seica Pilot V8 Next Series med inline håndteringsmodul til venstre for vertikal svingning av kretskortet og inline håndteringsmodul til høyre for horisontal svingning og rotasjon av kretskortet er tilgjengelig. Flying Probe-testsystem Seica Pilot V8 Next Series: Kretskortspenning: manuell, dobbeltvirkende, aktivt testområde manuelt: 538x610mm, aktivt testområde: 518x610mm, kretskortdimensjoner: 540x610mm, min. kretskortstørrelse: 20x20mm, kretskorttykkelse: 0,3 til 5mm, maks. komponenthøyde: 37mm, kretskortinnmating: vertikal, UUT kantavstand manuelt/automatisk: 2/6mm, lengde: 1750mm, bredde: 1030mm, høyde: 1995mm, vekt: 1,4t. Testverktøy/-teknikker: FNODE signaturanalyse på testnett, standard analog og digital in-circuit test, vektorløse tester, JSCAN og OPENFIX for å teste IC-er for åpne og korte forbindelser, PWMON nettopanalyse med påslått strøm til kretskort, kontinuitetstester for å oppdage åpne forbindelser på monteringskortet, visuelle tester for å identifisere komponenttilstedeværelse, komponentfravær og rotasjon, fargekamera med høy oppløsning, valgfrie funksjonstester og Boundary Scan-testmuligheter, valgfrie On Board programmeringsverktøy for digitale komponenter, med full dokumentasjon. Inspeksjon på stedet er mulig.
Iaedpfoy Sv S Hsx Ag Det

Annonsen ble oversatt automatisk. Oversettelsesfeil kan forekomme.