Målesystem

Mahr XC2

Tekniske spesifikasjoner:
Måleegenskaper

- Bevegelseslengde (X-akse): 0,2 mm til 120 mm
- Måleområde (Z-akse): 50 mm
- Oppløsning (Z-akse):
- Relativt til avlesningsspiss: 0,38 µm (med 350 mm målearms), 0,19 µm (med 175 mm målearms)
- Relativt til målesystem: 0,04 µm
- Avviksnøyaktighet føring: < 1 µm over 120 mm
- Målekraft (Z-akse): Justerbar fra 1 mN til 120 mN
- Sporføringsvinkel: Opptil 88° etterløpende kanter, 77° stigende kanter

Ytelse og hastighet

- Målehastighet (X-akse): 0,2 til 4 mm/s
- Kontakt-hastighet (Z-akse): 0,1 til 1 mm/s
- Posisjonshastighet:
- X-akse: 0,2 til 8 mm/s
- Z-akse: 0,2 til 10 mm/s

Avlesningsspiss & Målearm

- Målearmlengder: 175 mm eller 350 mm
- Avlesningsspiss radius: 25 µm
- Spissbytte: Magnetfeste for verktøyfri utskifting
- Kalibrering: Lagrer data for hver avlesningsspiss for rask installasjon

Dodpexx R Tpofx Abheul
System & Programvare

- Styreenhet: MidRange Standard PC med XC2-programvare basert på MarWin
- Brukergrensesnitt: Berøringsskjerm med intuitive ikoner og Quick & Easy programmering
- Evalueringsfunksjoner:
- Regresjonslinjer, sirkler, punkter, radier, vinkler, koordinater
- Nominell/aktuell sammenligning
- DXF-import (valgfritt)
- Toleranseovervåking
- Automatisk programkjøring

Inkluderte komponenter:
- CD 120 drivenhet
- ST 500 målestativ med granittplate (700 × 550 mm)
- MCP 23 manuell kontrollpanel
- CT 120 XY-bord med dreibar justering
- Kalibreringssett
- 17" TFT-monitor

Maskinstatus: IKKE FUNGERENDE – Lisensnøkkel tapt, krever ny oppstart med lisensnøkkel

Annonsen ble oversatt automatisk. Oversettelsesfeil kan forekomme.