HITEC målemikroskop QZW 1 250 x 170 mm

HITEC Messtechnik Messmikroskop QZW 1 M3 Software

Tilstand: svært god (brukt), Funksjonalitet: fullt funksjonell, Vi tilbyr her et topp målemikroskop QZW 1 fra HITEC Type: 400 x 250 mm M3-programvare: automatisk kantgjenkjenning, toleransekontroll i henhold til DIN/ISO, elementvisning med toleranseinndata, delvisning med dimensjonering, live-bilde under måling, ekstra lagring av bilder for dokumentasjon Dell Touch PC med Windows 10 (kan oppgraderes til 11) Kalibreringssertifikat gyldig til 31.07.2025 Fedpfsxwb Dpex Af Ujpp MÅLEOMRÅDE X-, Y-AKSE 400 x 250 mm LENGDEMÅLEAVVIK 4 μm + L/100 (L i mm) MÅLEOMRÅDE Z-AKSE 150 mm / valgfritt 350 mm MÅLESYSTEM Z-AKSE valgfritt KAMERA USB 3.0, 25 bilder/s, 2,0 megapiksler OBJEKTIV Fast objektiv / valgfritt zoomobjektiv 0,7x - 4,5x (manuell/motorisert) FORSTØRRELSE 40x eller 35x - 225x (zoomobjektiv) BILDEUTSNITT 8 mm eller 9 mm - 1,5 mm (zoomobjektiv) TOPPBELYSNING 4-segments LED-ringlys (valgfritt koaksialt toppbelysning) TRANSMITTERT LYS LED (valgfritt telecentrisk) POSISJONERINGSHJELP Laserpeker BORDBELASTNING maks. 20 kg LEVERINGSOMFANG QZW1, 23" touchskjerm PC, M3-programvare, kalibreringssertifikat, brukermanual Bruksområder QZW1-serien støtter deg ved høypresise og repeterbare målinger av komplekse komponenter i alle materialer. De mange alternativene som zoomobjektiv, ulike Z-akse-lengder og ulike målebordstørrelser gir deg alle muligheter for å møte dine spesifikke målebehov.